สารจากบรรณาธิการ
วารสารอิเล็กทรอนิกส์ ECTI ฉบับนี้ ขอแนะนำบทความเรื่อง “การทดสอบวงจรรวมขนาดใหญ่มาก” หรือ ..”VLSI Testing” โดย รองศาสตราจารย์ ดร.เอกชัย แสงอินทร์ คณะวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยเชียงใหม่ และขอเชิญพบกับรายงานจากการประชุมวิชาการ ITC-CSCC 2009 และ BMEiCON 2009 สุดท้ายขอแนะนำบทความวิจัยที่ได้รับการตีพิมพ์ในวารสาร ECTI-EEC ซึ่งเป็นวารสารนานาชาติของสมาคม ECTI โดยนำเสนอรายชื่อบทความและผู้เขียนที่ได้ผ่านการพิจารณาให้ตีพิมพ์
กองบก.ขอขอบพระคุณในความอุปการะตลอดมา และขอให้ติดตามวารสารอิเล็กทรอนิกส์ ECTI นี้ตลอดไป
.jpg)
รองศาสตราจารย์ ดร.โกสินทร์ จำนงไทย
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
Back to E-magazine List |
